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【海外专家学术报告】Recent Advances of Si-based Electrolyte-Gated Transistors for Point-of-Care Testing

发布人: 发布日期: 2025-12-15 浏览次数:
主讲人 Jeong-Soo Lee 时间 2025年12月16日上午10:00-11:00
地点 ZOOM会议号: 912 4949 8136

报告题目:Recent Advances of Si-based Electrolyte-Gated Transistors for Point-of-Care Testing

汇报人:Jeong-Soo Lee

汇报人单位:韩国浦项科技大学


ZOOM会议号: 912 4949 8136; 密码: 969024

时间:1216日上午10:00-11:00


个人简介:Jeong-Soo Lee于1991年、1993年和1996年分别在韩国浦项科技大学获得电气工程学士、硕士和博士学位。1996年,他加入三星电子,担任高级工程师,从事逻辑器件和非易失性存储器的研发工作。2001年,他作为访问学者在加州大学伯克利分校从事先进晶体管的研究。2005年,他成为韩国知识经济部设立的国家纳米材料技术中心的创始成员之一。2015年,他回到浦项科技大学电气工程系担任教授。他曾担任IEEE纳米技术理事会行政委员会成员以及IEEE电子器件学会教育委员会委员。自2023年起,他担任浦项科技大学负责创新与产学合作的副校长。他的研究方向包括用于生物传感器应用的硅基纳米器件,以及三维闪存的可靠性研究。

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